Bericht versturen
Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
High Resolution Digital Scanning Optical Microscope Huge Sample Stage

Stadium van de de Microscoop Reusachtige Steekproef van het hoge Resolutie het Digitale Aftasten Optische

  • Hoog licht

    hoge resolutie die optische microscoop aftasten

    ,

    reusachtig steekproefstadium die optische microscoop aftasten

  • Resolutie
    3nm@30KV (SE); 6nm@30KV (BSE)
  • Vergroting
    Negatieve Vergroting: 8x~300000x; Het schermvergroting: 12x~600000x
  • Elektronenkanon
    De wolfram Verwarmde kathode-Pre Gecentreerde Patroon van de Wolframgloeidraad
  • Versnellend Voltage
    0~30KV
  • Objectieve opening
    Het Regelbare Buiten Vacuümsysteem van de molybdeenopening
  • Specimenstadium
    Vijf Assenstadium
  • Plaats van herkomst
    China
  • Merknaam
    OPTO-EDU
  • Certificering
    CE, Rohs
  • Modelnummer
    A63.7069
  • Min. bestelaantal
    1 pc
  • Prijs
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Verpakking Details
    Kartonverpakking, voor de Uitvoervervoer
  • Levertijd
    5 ~ 20 dagen
  • Betalingscondities
    T / T, West Union, Paypal
  • Levering vermogen
    5000 PCs-Maand

Stadium van de de Microscoop Reusachtige Steekproef van het hoge Resolutie het Digitale Aftasten Optische

 
  • 8x~300000x met Detector SED+BSED+CCD, Vijf Assenstadium (Autox/y, Handz/r/t)
  • Upgradeable LaB6, Röntgenstraaldetector, EBSD, cl, WDS, Met een laag bedekkend Machine en Enz.
  • Multiwijziging EBL, STM, AFTM, Heatign-Stadium, Cryo-Stadium, Trekstadium, SEM+Laser en Enz.
  • De autokaliberbepaling, Auto Defecte Opsporing, Lage Kosten voor handhaaft & herstelt
  • Gemakkelijke & Vriendschappelijke Verrichtingsinterface, allen Gecontroleerd door Muis in (het Inbegrepen) Systeem van Computervensters
Stadium van de de Microscoop Reusachtige Steekproef van het hoge Resolutie het Digitale Aftasten Optische 0
 
Stadium van de de Microscoop Reusachtige Steekproef van het hoge Resolutie het Digitale Aftasten Optische 1
 
Stadium van de de Microscoop Reusachtige Steekproef van het hoge Resolutie het Digitale Aftasten Optische 2
Stadium van de de Microscoop Reusachtige Steekproef van het hoge Resolutie het Digitale Aftasten Optische 3
 
Stadium van de de Microscoop Reusachtige Steekproef van het hoge Resolutie het Digitale Aftasten Optische 4
 
Stadium van de de Microscoop Reusachtige Steekproef van het hoge Resolutie het Digitale Aftasten Optische 5
 
Stadium van de de Microscoop Reusachtige Steekproef van het hoge Resolutie het Digitale Aftasten Optische 6
 
Stadium van de de Microscoop Reusachtige Steekproef van het hoge Resolutie het Digitale Aftasten Optische 7
 
Stadium van de de Microscoop Reusachtige Steekproef van het hoge Resolutie het Digitale Aftasten Optische 8
 
Stadium van de de Microscoop Reusachtige Steekproef van het hoge Resolutie het Digitale Aftasten Optische 9
 
Stadium van de de Microscoop Reusachtige Steekproef van het hoge Resolutie het Digitale Aftasten Optische 10
 
Stadium van de de Microscoop Reusachtige Steekproef van het hoge Resolutie het Digitale Aftasten Optische 11
 
Stadium van de de Microscoop Reusachtige Steekproef van het hoge Resolutie het Digitale Aftasten Optische 12     
A63.7069 Software Hoofdfunctie
Hoge drukregelgeving Verticaal lijnaftasten Potentiële verschuivingsregelgeving
Gloeidraad huidige regelgeving Condensatoraanpassing Multischaalmeting
Astigmatische aanpassing Elektrische aan centrale aanpassing Automatisch helderheid/contrast
Helderheidsaanpassing Objectieve lensaanpassing Autonadruk
Contrastaanpassing Fotovoorproef Automatische astigmatismeverwijdering
Vergrotingsaanpassing Actieve heerser Automatische gloeidraadaanpassing
De geselecteerde wijze van het gebiedsaftasten 4 aftastensnelheid het plaatsen Beheer van parameters
De wijze van het puntaftasten Objectieve lensinversie Beeldmomentopname, beeld het bevriezen
Oppervlakteaftasten Condensatoromkering Één Zeer belangrijke Snelle weergave
Horizontale lijnaftasten Elektrische omwentelingsaanpassing  
 

Stadium van de de Microscoop Reusachtige Steekproef van het hoge Resolutie het Digitale Aftasten Optische 13
 
Stadium van de de Microscoop Reusachtige Steekproef van het hoge Resolutie het Digitale Aftasten Optische 14     
SEM A63.7069 A63.7080 A63.7081
Resolutie 3nm@30KV (SE)
6nm@30KV (BSE)
1.5nm@30KV (SE)
3nm@30KV (BSE)
1.0nm@30KV (SE)
3.0nm@1KV (SE)
2.5nm@30KV (BSE)
Vergroting 8x~300000x verbied Ware Vergroting 8x~800000x verbied Ware Vergroting 6x~1000000x verbied Ware Vergroting
Elektronenkanon De pre-gecentreerde Patroon van de Wolframgloeidraad Schottky-het Kanon van de Gebiedsemissie Schottky-het Kanon van de Gebiedsemissie
Voltage Het versnellende Voltage 0~30KV, Ononderbroken Regelbaar, past Stap 100V@0-10Kv, 1KV@10-30KV aan
Snelle weergave Één Zeer belangrijke Functie van het Snelle weergavebeeld N/A N/A
Lenssysteem Drie-niveaus Elektromagnetische Verminderde Lens Multi-niveaus Elektromagnetische Verminderde Lens
Opening 3 demonteren de molybdeen Objectieve Openingen, Regelbaar buiten Vacuümsysteem, Geen Behoefte Doelstelling om Opening te veranderen
Vacuümsysteem 1 turbo Moleculaire Pomp
1 mechanische Pomp
Steekproefzaal Vacuum>2.6E-3Pa
De Zaal Vacuum>2.6E-3Pa van het elektronenkanon
Volledig Auto Vacuümcontrole
Vacuümkoppelingsfunctie

Facultatief Model: A63.7069-LV
1 turbo Moleculaire Pomp
2 mechanische Pompen
Steekproefzaal Vacuum>2.6E-3Pa
De Zaal Vacuum>2.6E-3Pa van het elektronenkanon
Volledig Auto Vacuümcontrole
Vacuümkoppelingsfunctie
Lage Vacuümwaaier 10~270Pa voor Snelle Schakelaar in de Seconden van 90 voor BSE (LV)
1 Ion Pump Set
1 turbo Moleculaire Pomp
1 mechanische Pomp
Steekproefzaal Vacuum>6E-4Pa
De Zaal Vacuum>2E-7 van het elektronenkanon Pa
Volledig Auto Vacuümcontrole
Vacuümkoppelingsfunctie
1 sputter Ion Pump
1 vangstof Ion Compound Pump
1 turbo Moleculaire Pomp
1 mechanische Pomp
Steekproefzaal Vacuum>6E-4Pa
De Zaal Vacuum>2E-7 van het elektronenkanon Pa
Volledig Auto Vacuümcontrole
Vacuümkoppelingsfunctie
Detector SE: Hoge Vacuüm Secundaire Elektronendetector (met Detectorbescherming) SE: Hoge Vacuüm Secundaire Elektronendetector (met Detectorbescherming) SE: Hoge Vacuüm Secundaire Elektronendetector (met Detectorbescherming)
BSEHalfgeleider 4 Segmentatie
Achter Verspreidende Detector

Facultatief Model: A63.7069-LV
BSE (LV)Halfgeleider 4 Segmentatie
Achter Verspreidende Detector
Facultatief Facultatief
CCD: Infrarode CCD-Camera CCD: Infrarode CCD-Camera CCD: Infrarode CCD-Camera
Breid Haven uit 2 breid Havens op Steekproefzaal voor uit
EDS, BSD, WDS ENZ.
4 breid Havens op Steekproefzaal voor uit
BSE, EDS, BSD, WDS ENZ.
4 breid Havens op Steekproefzaal voor uit
BSE, EDS, BSD, WDS ENZ.
Specimenstadium 5 assenstadium, Handcontrole 4 Auto +1
Reiswaaier:
X=70mm, Y=50mm, Z=45mm,
R=360°, T=-5°~+90° (Hand)
Van het aanrakingsalarm & Einde Functie
5 assen Auto Middenstadium
Reiswaaier:
X=80mm, Y=50mm, Z=30mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Van het aanrakingsalarm & Einde Functie

Facultatief Model:
A63.7080-m 5 Assen Handstadium
A63.7080-l 5 Assen Auto Groot Stadium
5 assen Auto Groot Stadium
Reiswaaier:
X=150mm, Y=150mm, Z=60mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Van het aanrakingsalarm & Einde Functie
Max Specimen Dia.175mm, Hoogte 35mm Dia.175mm, Hoogte 20mm Dia.340mm, Hoogte 50mm
Beeldsysteem De echte nog Pixel van Beeldmax resolution 4096x4096,
Afbeeldingsbestandformaat: BMP (Gebrek), GIF, JPG, PNG, TIF
De echte nog Pixel van Beeldmax resolution 16384x16384,
Afbeeldingsbestandformaat: TIF (Gebrek), BMP, GIF, JPG, PNG
Video: Auto Digitaal Verslag. AVI Video
De echte nog Pixel van Beeldmax resolution 16384x16384,
Afbeeldingsbestandformaat: TIF (Gebrek), BMP, GIF, JPG, PNG
Video: Auto Digitaal Verslag. AVI Video
Computer & Software PC-Werkplekwinst 10 Systeem, met de Professionele Software van de Beeldanalyse Geheel SEM Microscope Operation, Computerspecificatie niet minder dan Interi5 3.2GHz, 4G-Geheugen,“ IPS 24 LCD Monitor, 500G-Harde schijf, Muis, Toetsenbord volledig om te controleren
Fotovertoning Het Beeldniveau is Rich And Meticulous, die Vergroting In real time, Heerser, Voltage, Gray Curve tonen
Afmeting
& Gewicht
Microscooplichaam 800x800x1850mm
Werkende Lijst 1340x850x740mm
Totaal Gewicht 400Kg
Microscooplichaam 800x800x1480mm
Werkende Lijst 1340x850x740mm
Totaal Gewicht 450Kg
Microscooplichaam 1000x1000x1730mm
Werkende Lijst 1330x850x740mm
Totaal Gewicht 550Kg
Facultatieve Toebehoren
Facultatieve Toebehoren A50.7002 EDS Spectrometer van de Energie de Verbrokkelde Röntgenstraal
A50.7011 Ion Sputtering Coater
A50.7001 BSE Achter Verspreidende Elektronendetector
A50.7002 EDS Spectrometer van de Energie de Verbrokkelde Röntgenstraal
A50.7011 Ion Sputtering Coater
A50.7030 motoriseer Configuratiescherm
A50.7001 BSE Achter Verspreidende Elektronendetector
A50.7002 EDS Spectrometer van de Energie de Verbrokkelde Röntgenstraal
A50.7011 Ion Sputtering Coater
A50.7030 motoriseer Configuratiescherm
 
Stadium van de de Microscoop Reusachtige Steekproef van het hoge Resolutie het Digitale Aftasten Optische 15
 
Stadium van de de Microscoop Reusachtige Steekproef van het hoge Resolutie het Digitale Aftasten Optische 16
A50.7001 BSE Detector Halfgeleider Vier Segment Achter Verspreidende Detector;
Beschikbaar in Ingrediënten A+B, de Morfologieinformatie ab;
De beschikbare Steekproef neemt zonder Goud waar Te sputteren;
Beschikbaar neem binnen Onzuiverheid en Distributie direct van Grayscale-Kaart waar.
A50.7002 EDS (X Ray Detector) Het Venster van het siliciumnitride (Si3N4) om de Lage Transmissie van de Energieröntgenstraal voor Lichte Elementenanalyse te optimaliseren;
De uitstekende Resolutie en Hun Geavanceerde Elektronika Met geringe geluidssterkte verstrekken Opmerkelijke Productieprestaties;
De Kleine Voetafdruk biedt Flexibiliteit aan om Ideale Meetkunde en Aata-Inzamelingsvoorwaarden te verzekeren;
De Detectors bevatten een 30mm2-Spaander.
A50.7003 EBSD (Elektronenstraal Omgekeerde Diffractie) de gebruiker kon de richtlijn van het analysekristal, kristalfase en micro- textuur van materialen en verwante materialenprestaties, enz.
automatische optimalisering van EBSD-cameramontages
tijdens de gegevensverzameling, maak interactieve analyse in real time om maximuminformatie te verkrijgen
alle gegevens werden gebrandmerkt met tijdmarkering, die kan op elk ogenblik worden bekeken
hoge resolutiex12 1392 x 1040
Aftasten en indexsnelheid: 198 punten/seconden, met Ni als norm, op de voorwaarde van 2~5nA, het kunnen indextarief ≥99% verzekeren;
de werken goed op de voorwaarde van laag straal huidig en laag voltage van 5kV bij 100pA
richtlijn die nauwkeurigheid meten: Dan beter 0,1 graden
Het gebruiken van triplex indexsysteem: geen behoefte baseert zich op enige banddefinitie, het gemakkelijke indexeren van slechte patroonkwaliteit
specifieke database: De speciale die database van EBSD door elektronendiffractie wordt verkregen: >400 fasestructuur
Indexcapaciteit: het kan alle kristalmaterialen van 7 kristalsystemen automatisch indexeren.
De geavanceerde opties omvatten etc. het berekenen elastische stijfheid (Elastische Stijfheid), Taylor (Taylor) factor, Schmidt (Schmid) factor.
A50.7010 Deklaagmachine Glas die Shell beschermen: ∮250mm; Hoge 340mm;
De Kamer van de glasverwerking:
∮88mm; Hoge 140mm, ∮88mm; Hoge 57mm;
De Grootte van het specimenstadium: (maximum) ∮40mm;
Vacuümsysteem: moleculapomp en Mechanische Pomp;
Vacuümopsporing: Piranipand;
Vacuüm: dan 2 X 10-3 beter Pa;
Vacuümbescherming: 20 pa met de Klep van de Micro-schaalinflatie;
Specimenbeweging: Vliegtuigomwenteling, schuine standprecession.
A50.7011 Ion Sputtering Coater De Kamer van de glasverwerking: ∮100mm; Hoge 130mm;
De Grootte van het specimenstadium: ∮40mm (Greep 6 Specimenkoppen);
Gouden Doelgrootte: ∮58mm*0.12mm (dikte);
Vacuümopsporing: Piranipand;
Vacuümbescherming: 20 pa met de Klep van de Micro-schaalinflatie;
Middelgroot Gas: argon of Lucht met van het de Luchtinham en Gas van het Argongas het Speciale Regelen in Micro-schaal.
A50.7012 Argon Ion Sputtering Coater De Steekproef werd geplateerd met Koolstof en Goud onder Hoog Vacuüm;
Draaibare Steekproeflijst, Eenvormige Deklaag, Deeltjesgrootte over 3-5nm;
Geen Selectie van Doelmateriaal, Geen Schade aan Steekproeven;
De Functies van Ion Cleaning And Ion Thinning kunnen worden gerealiseerd.
A50.7013 Kritisch puntdroger Binnendiameter: 82mm, Binnenlengte: 82mm;
Drukwaaier: 0-2000psi;
Temperatuurwaaier: 0°-50° C (32°-122° F)
A50.7014 Elektronenstraallithografie Gebaseerd op AftastenElektronenmicroscoop, werd een Nieuw nano-Blootstellingssysteem ontwikkeld;
      Modificaton heeft Al Sem Functions For Making Nanoscale-Beeld van de Lijnbreedte gehouden;
Het Systeem Widly van Modificated Ebl was in Micro-electronische Apparaten, Optoelectronic Apparaten, Quantun-Apparaten, O&O van het Micro-elektronicasysteem van toepassing.
 
Stadium van de de Microscoop Reusachtige Steekproef van het hoge Resolutie het Digitale Aftasten Optische 17
A63.7069 Standaardverbruiksgoederenuitrusting
1 Wolframgloeidraad Pre-gecentreerd, Ingevoerd 1 doos (5 PCs)
2 Steekproefkop Dia.13mm 5 PCs
3 Steekproefkop Dia.32mm 5 PCs
4 Koolstof Tweezijdige Geleidende Band 6mm 1 pakket
5 Vacuümvet   10 PCs
6 Kale Doek   1 buis
7 Oppoetsend Deeg   1 PC
8 Steekproefdoos   2 zakken
9 Katoenen Zwabber   1 PC
10 De Filter van de oliemist   1 PC
A63.7069 Standaardhulpmiddelen & Delenuitrusting
1 Binnen Hexagon Moersleutel 1.5mm~10mm 1 reeks
2 Pincet Lengte 100120mm 1 PC
3 Ingelaste Schroevedraaier 2*50mm, 2*125mm 2 PCs
4 Dwarsschroevedraaier 2*125mmm 1 PC
5 Diafragmavlekkenmiddel   1 PC
6 Schoonmakende Staaf   1 PC
7 Het Hulpmiddel van de gloeidraadaanpassing   1 PC
8 Gloeidraad het Aanpassen Pakking   3 PC
9 Buistrekker   1 PC
Stadium van de de Microscoop Reusachtige Steekproef van het hoge Resolutie het Digitale Aftasten Optische 18