Bericht versturen
Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
Controled Mouse Scanning Electron Microscope Sem  8x~800000x Magnification

Gecontroleerde de Elektronenmicroscoopsem 8x~800000x van het Muisaftasten Vergroting

  • Hoog licht

    de gecontroleerde elektronenmicroscoop van het muisaftasten sem

    ,

    800000x de elektronenmicroscoop van het vergrotingsaftasten sem

  • Resolutie
    1.5nm@15KV (SE); 3nm@20KV (BSE)
  • Vergroting
    8x~800000x
  • Elektronenkanon
    Schottky-emissie-elektronenkanon
  • Versnellend Voltage
    0~30KV
  • Maximale monsterdiameter
    175mm
  • Specimenstadium
    Vijf assen Eucentrisch gemotoriseerd podium
  • Plaats van herkomst
    China
  • Merknaam
    OPTO-EDU
  • Certificering
    CE, Rohs
  • Modelnummer
    A63.7080
  • Min. bestelaantal
    1 pc
  • Prijs
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Verpakking Details
    Kartonverpakking, voor de Uitvoervervoer
  • Levertijd
    5 ~ 20 dagen
  • Betalingscondities
    T / T, West Union, Paypal
  • Levering vermogen
    5000 PCs-Maand

Gecontroleerde de Elektronenmicroscoopsem 8x~800000x van het Muisaftasten Vergroting

 
  • 8x~800000x Met Detector SED+CCD, Vijf Assen Handmatig Podium of Gemotoriseerd Podium
  • E-straalversnelling met stabiele straalstroomvoorziening Uitstekend beeld onder lage spanning
  • Niet-geleidend monster kan direct worden waargenomen, het is niet nodig om in laagspanning te worden gesputterd
  • Eenvoudige en gebruiksvriendelijke bedieningsinterface, allemaal bestuurd door muis in Windows-systeem
  • Grote monsterkamer met vijf assen Eucentrisch gemotoriseerd podium Groot formaat, max. Specimen Dia.175 mm
Gecontroleerde de Elektronenmicroscoopsem 8x~800000x van het Muisaftasten Vergroting 0
 
Gecontroleerde de Elektronenmicroscoopsem 8x~800000x van het Muisaftasten Vergroting 1
 
Gecontroleerde de Elektronenmicroscoopsem 8x~800000x van het Muisaftasten Vergroting 2
Gecontroleerde de Elektronenmicroscoopsem 8x~800000x van het Muisaftasten Vergroting 3
 
Gecontroleerde de Elektronenmicroscoopsem 8x~800000x van het Muisaftasten Vergroting 4
 
Gecontroleerde de Elektronenmicroscoopsem 8x~800000x van het Muisaftasten Vergroting 5
 
Gecontroleerde de Elektronenmicroscoopsem 8x~800000x van het Muisaftasten Vergroting 6
 
Gecontroleerde de Elektronenmicroscoopsem 8x~800000x van het Muisaftasten Vergroting 7
 
Gecontroleerde de Elektronenmicroscoopsem 8x~800000x van het Muisaftasten Vergroting 8
 
Gecontroleerde de Elektronenmicroscoopsem 8x~800000x van het Muisaftasten Vergroting 9
 
Gecontroleerde de Elektronenmicroscoopsem 8x~800000x van het Muisaftasten Vergroting 10
 
Gecontroleerde de Elektronenmicroscoopsem 8x~800000x van het Muisaftasten Vergroting 11
 
Gecontroleerde de Elektronenmicroscoopsem 8x~800000x van het Muisaftasten Vergroting 12
 
A63.7080, A63.7081 Software Hoofdfunctie:
Hoogspanning geïntegreerde inbedrijfstelling Automatisch filament aan/uit Potentiële ploegenregeling
Helderheidsaanpassing Elektrisch naar centraal verstelling Automatische helderheid
Contrastaanpassing Objectief aanpassing Autofocus
Vergrotingsaanpassing Objectieve demagnetisering Automatische eliminatie van astigmatisme
Scanmodus voor geselecteerde gebieden Elektrische rotatieverstelling Beheer van microscoopparameters
Punt scanmodus Aanpassing elektronenstraalverplaatsing Realtime weergave van scanveldgrootte
Lijnscanmodus: Aanpassing van de kanteling van de elektronenstraal Pistool lens aanpassing
Oppervlakte scannen Aanpassing scansnelheid Meerkanaals ingang
Bewaking van hoogspanningsvermogen Swing centreren Liniaal meting
 
 
Gecontroleerde de Elektronenmicroscoopsem 8x~800000x van het Muisaftasten Vergroting 13
 
Gecontroleerde de Elektronenmicroscoopsem 8x~800000x van het Muisaftasten Vergroting 14
SEM A63.7069 A63.7080 A63.7081
Oplossing 3nm@30KV(SE)
6nm@30KV (BSE)
1.5nm@30KV (SE)
3nm@30KV (BSE)
1.0nm@30KV(SE)
3.0nm@1KV(SE)
2.5nm@30KV (BSE)
Vergroting 8x~300000x Negatieve Ware Vergroting 8x~800000x Negatieve Ware Vergroting 6x~1000000x Negatieve Ware Vergroting
Elektronenkanon Pre-gecentreerde wolfraam filament cartridge Schottky veldemissiekanon Schottky veldemissiekanon
Spanning Versnellingsspanning 0~30KV, continu instelbaar, stap aanpassen 100V@0-10Kv, 1KV@10-30KV
Snelle kijk Eén toets Quick View Image-functie Nvt Nvt
Lenssysteem Elektromagnetische taps toelopende lens met drie niveaus Elektromagnetische taps toelopende lens met meerdere niveaus
Opening 3 objectiefopeningen van molybdeen, verstelbaar buiten het vacuümsysteem, het is niet nodig om het objectief te demonteren om het diafragma te veranderen
Vacuüm systeem 1 moleculaire turbopomp
1 mechanische pomp
Sample Room Vacuüm>2.6E-3Pa
Elektronenkanonkamervacuüm>2.6E-3Pa
Volledig automatische vacuümregeling
Vacuümvergrendelingsfunctie:

Optioneel model: A63.7069-LV
1 moleculaire turbopomp
2Mechanische pompen
Sample Room Vacuüm>2.6E-3Pa
Elektronenkanonkamervacuüm>2.6E-3Pa
Volledig automatische vacuümregeling
Vacuümvergrendelingsfunctie:

Laag vacuümBereik 10 ~ 270 Pa voor snel schakelen in 90 seconden voor BSE (LV)
1 ionenpompset
1 moleculaire turbopomp
1 mechanische pomp
Sample Room Vacuüm>6E-4Pa
Elektronenpistoolkamervacuüm>2E-7 Pa
Volledig automatische vacuümregeling
Vacuümvergrendelingsfunctie:
1 sputter-ionenpomp
1 Getter-ionenverbindingspomp
1 moleculaire turbopomp
1 mechanische pomp
Sample Room Vacuüm>6E-4Pa
Elektronenpistoolkamervacuüm>2E-7 Pa
Volledig automatische vacuümregeling
Vacuümvergrendelingsfunctie:
Detector SE: Hoogvacuüm secundaire elektronendetector (met detectorbescherming) SE: Hoogvacuüm secundaire elektronendetector (met detectorbescherming) SE: Hoogvacuüm secundaire elektronendetector (met detectorbescherming)
BSE: Halfgeleider 4 Segmentatie
Terugverstrooiingsdetector


Optioneel model: A63.7069-LV
BSE(LV): Halfgeleider 4 Segmentatie
Terugverstrooiingsdetector
Optioneel Optioneel
CCD:Infrarood CCD-camera CCD:Infrarood CCD-camera CCD:Infrarood CCD-camera
Poort uitbreiden 2 uitbreidingspoorten op voorbeeldruimte voor:
EDS, BSD, WDS enz.
4 Verleng poorten op voorbeeldruimte voor:
BSE, EDS, BSD, WDS enz.
4 Verleng poorten op voorbeeldruimte voor:
BSE, EDS, BSD, WDS enz.
Specimenstadium 5 assen podium, 4Auto+1HandleidingControle
Reisbereik:
X=70mm, Y=50mm, Z=45mm,
R=360°, T=-5°~+90° (handmatig)
Aanraakwaarschuwing & stopfunctie
5 assenAuto MiddenFase
Reisbereik:
X=80mm, Y=50mm, Z=30mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Aanraakwaarschuwing & stopfunctie

Optioneel Model:

A63.7080-M5 assenHandleidingFase
A63.7080-L5 assenAuto GrootFase
5 assenAuto GrootFase
Reisbereik:
X=150mm, Y=150mm, Z=60mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Aanraakwaarschuwing & stopfunctie
Max. monster Dia.175mm, Hoogte 35mm Dia.175mm, Hoogte 20mm Dia.340mm, Hoogte 50mm
Afbeeldingssysteem Echt stilstaand beeld Max. resolutie 4096x4096 pixels,
Afbeeldingsbestandsindeling: BMP (standaard), GIF, JPG, PNG, TIF
Echt stilstaand beeld Max. resolutie 16384x16384 pixels,
Afbeeldingsbestandsindeling: TIF (standaard), BMP, GIF, JPG, PNG
Video: automatisch digitale .AVI-video opnemen
Echt stilstaand beeld Max. resolutie 16384x16384 pixels,
Afbeeldingsbestandsindeling: TIF (standaard), BMP, GIF, JPG, PNG
Video: automatisch digitale .AVI-video opnemen
Computer software PC Work Station Win 10-systeem, met professionele beeldanalysesoftware om de hele SEM-microscoopbediening volledig te regelen, computerspecificatie niet minder dan Inter I5 3,2 GHz, 4G-geheugen, 24-inch IPS LCD-monitor, 500G harde schijf, muis, toetsenbord
Fotoweergave Het beeldniveau is rijk en nauwkeurig en toont realtime vergroting, liniaal, spanning, grijze curve
Dimensie
& Gewicht
Microscooplichaam 800x800x1850mm
Werktafel 1340x850x740mm
Totaal gewicht 400Kg
Microscooplichaam 800x800x1480mm
Werktafel 1340x850x740mm
Totaal gewicht 450Kg
Microscooplichaam 1000x1000x1730mm
Werktafel 1330x850x740mm
Totaal gewicht 550Kg
optionele accesoires
optionele accesoires A50.7002EDS energiedispersieve röntgenspectrometer
A50.7011Ionen Sputterende Coater
A50.7001BSE terugverstrooiingselektronendetector
A50.7002EDS energiedispersieve röntgenspectrometer
A50.7011Ionen Sputterende Coater
A50.7030Bedieningspaneel motoriseren
A50.7001BSE terugverstrooiingselektronendetector
A50.7002EDS energiedispersieve röntgenspectrometer
A50.7011Ionen Sputterende Coater
A50.7030Bedieningspaneel motoriseren
 
Gecontroleerde de Elektronenmicroscoopsem 8x~800000x van het Muisaftasten Vergroting 15
 
Gecontroleerde de Elektronenmicroscoopsem 8x~800000x van het Muisaftasten Vergroting 16
A50.7001 BSE-detector Halfgeleider vier segmenten terugverstrooiingsdetector;
Verkrijgbaar in ingrediënten A+B, morfologie Info AB;
Beschikbaar monster observeren zonder goud te sputteren;
Beschikbaar in Observeer onzuiverheid en distributie rechtstreeks van de grijswaardenkaart.
A50.7002 EDS (röntgendetector) Siliciumnitride (Si3N4) venster om röntgentransmissie met lage energie te optimaliseren voor analyse van lichte elementen;
Uitstekende resolutie en hun geavanceerde ruisarme elektronica zorgen voor uitstekende doorvoerprestaties;
De kleine voetafdruk biedt flexibiliteit om ideale geometrie en Aata-inzamelingsvoorwaarden te garanderen;
De detectoren bevatten een chip van 30 mm2.
A50.7003 EBSD (elektronenbundel terugverstrooide diffractie) gebruiker kan kristaloriëntatie, kristalfase en microtextuur van materialen en gerelateerde materialenprestaties analyseren, enz.
automatische optimalisatie van EBSD-camera-instellingen
doe tijdens de gegevensverzameling interactieve realtime analyse om maximale informatie te verkrijgen
alle gegevens zijn gebrandmerkt met een tijdlabel, dat op elk moment kan worden bekeken
hoge resolutie 1392 x 1040 x 12
Scan- en indexsnelheid: 198 punten / sec, met Ni als standaard, onder de voorwaarde van 2 ~ 5nA, kan het indexpercentage ≥99% garanderen;
werkt goed onder de conditie van dimlichtstroom en laagspanning van 5kV bij 100pA
oriëntatie meetnauwkeurigheid: beter dan 0,1 graden
Triplex-indexsysteem gebruiken: u hoeft niet te vertrouwen op een enkele banddefinitie, eenvoudige indexering van slechte patroonkwaliteit
speciale database: EBSD speciale database verkregen door elektronendiffractie:> 400 fasestructuur
Indexvermogen: het kan automatisch alle kristalmaterialen van 7 kristalsystemen indexeren.
De geavanceerde opties omvatten het berekenen van elastische stijfheid (elastische stijfheid), Taylor (Taylor) factor, Schmidt (Schmid) factor enzovoort.
A50.7010 Coatingmachine Glasbeschermende schaal: ∮250 mm;340 mm hoog;
Glasverwerkingskamer:
∮88 mm;140 mm hoog, ∮88 mm;57 mm hoog;
Grootte monsterpodium: ∮40 ​​mm (max);
Vacuümsysteem: molecuulpomp en mechanische pomp;
Vacuümdetectie: Pirani Gage;
Vacuüm: beter dan 2 X 10-3 Pa;
Vacuümbescherming: 20 Pa met opblaasventiel op microschaal;
Specimenbeweging: vliegtuigrotatie, kantelprecessie.
A50.7011 Ionen Sputterende Coater Glasverwerkingskamer: ∮100 mm;130 mm hoog;
Specimen Stage Maat: ∮40mm (Houd 6 Specimen Cups);
Gouden doelmaat: ∮58 mm * 0,12 mm (dikte);
Vacuümdetectie: Pirani Gage;
Vacuümbescherming: 20 Pa met opblaasventiel op microschaal;
Medium gas: argon of lucht met argongas Speciale luchtinlaat en gasregulerend op microschaal.
A50.7012 Argon Ionen Sputterende Coater Het monster werd geplateerd met koolstof en goud onder hoog vacuüm;
Draaibare monstertafel, uniforme coating, deeltjesgrootte ongeveer 3-5 nm;
Geen selectie van doelmateriaal, geen schade aan monsters;
De functies van ionenreiniging en ionverdunning kunnen worden gerealiseerd.
A50.7013 Kritische puntdroger Binnendiameter: 82 mm, binnenlengte: 82 mm;
Drukbereik: 0-2000psi;
Temperatuurbereik: 0°-50° C (32°-122° F)
A50.7014 Elektronenstraallithografie Op basis van een scanning-elektronenmicroscoop werd een nieuw nano-belichtingssysteem ontwikkeld;
De modificatie heeft alle Sem-functies behouden voor het maken van een lijnbreedte op nanoschaal;
Het gemodificeerde Ebl-systeem op grote schaal toegepast in micro-elektronische apparaten, opto-elektronische apparaten, Quantun-apparaten, micro-elektronicasysteem R&D.
 
Gecontroleerde de Elektronenmicroscoopsem 8x~800000x van het Muisaftasten Vergroting 17
A63.7080, A63.7081 Standaard uitrusting voor verbruiksartikelen
1 Veldemissiefilament Geïnstalleerd in Microscoop 1 stuk
2 Voorbeeldbeker Dia.13mm 5 stuks
3 Voorbeeldbeker Dia.32mm 5 stuks
4 Carbon dubbelzijdig geleidende tape 6 mm 1 pakket
5 Vacuüm vet   10 stuks
6 Haarloze doek   1 buis
7 Polijstpasta   1 stuk
8 Voorbeelddoos   2 tassen
9 Wattenstaafje   1 stuk
10 Olienevelfilter   1 stuk
A63.7080, A63.7081 Standaarduitrusting voor gereedschap en onderdelen
1 Binnenzeskantsleutel 1.5mm~10mm 1 reeks
2 Pincet Lengte 100-120 mm 1 stuk
3 Sleufschroevendraaier 2*50mm, 2*125mm 2 stuks
4 Kruisschroevendraaier 2*125 mm 1 stuk
5 Ontluchtingspijp reinigen Dia.10 / 6.5 mm (buitendiameter / binnendiameter) 5m
6 Ontlucht drukreduceerventiel Uitgangsdruk 0-0,6 MPa 1 stuk
7 Interne bakvoeding 0-3A gelijkstroom 2 stuks
8 UPS-voeding 10kVA 2 stuks

Gecontroleerde de Elektronenmicroscoopsem 8x~800000x van het Muisaftasten Vergroting 18