|
A13.1102 Metallurgische Microscoopspecificatie
|
|
Hoofd
|
Compensatie Vrije Trinocular, Neiging van 30 graad, 50mm75mm
|
|
Ooglens
|
Breed gebied WF10X/25mm
|
|
Breed gebied WF10X/20mm met crosshair 0.1mm
|
|
Apochromatic Doelstellingen van het oneindigheidsplan
|
Apochromatic Doelstellingen van het oneindigheidsplan met Lange het Werk Afstand
|
|
Lange het Werk Afstand 35mm PL L5X/0.15.
|
|
Lange het Werk Afstand 35mm PL L10X/0.28
|
|
Lange het Werk Afstand 20mm PL L 20X/0.40
|
|
Lange het Werk Afstand 13mm PL L50X/0.55
|
|
Flashboardfilter
|
Blauwe Filter
|
|
Groene Filter
|
|
Neutrale Filter
|
|
Nadruksysteem
|
Het coaxiale Ruwe en Fijne Concentreren zich met Rek en Pignonmechanisme; Fijne Concentrerende Schaalwaarde 0.002mm
|
|
Nosepiece
|
Verviervoudig, centreer Regelbaar
|
|
Stadium
|
Dubbele Mechanische Laag (Size190mmX140mm, Bewegende Waaier: 50mmX40mm)
|
|
Lichtbron
|
12V/50W, AC 85V-230V Halogeenbol met Apertrue-Irisdiafragma en Gebied Iiris Diaphragm, Adjustble-Helderheid
|
|
Polariserend Apparaat
|
De analysator draaibare 360°, &Analyzer polariseren kan Mmoved binnen uit de Optische Weg zijn
|
|
Het controleren van Hulpmiddel
|
0.01mm Micrometer
|
