logo
Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
1x~600000x Emission Scanning Electron Microscope Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem

1x~600000x Emissiescanner Elektronenmicroscoop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem

Producten - Aftastenmicroscoop
  • Markeren

    8x de elektronenmicroscoop van het emissieaftasten

    ,

    schottky het aftastenelektronenmicroscoop van de kanonemissie

  • Oplossing
    1,5 nm@15KV(SE); 3nm@20KV(BSE)
  • Vergroting
    1x~600000x
  • Elektronenkanon
    Schottky-emissie-elektronenkanon
  • Versnellingsspanning
    0~30KV
  • Vacuümsysteem
    Ionenpomp, moleculaire turbopomp, rotatiepomp
  • Monsterstadium
    Eucentrisch gemotoriseerd podium met vijf assen
  • Elektronenstraalstroom
    10pA~0,3μA
  • Maximale monsterdiameter
    175 mm
  • Plaats van herkomst
    China
  • Merknaam
    CNOEC, OPTO-EDU
  • Certificering
    CE,
  • Modelnummer
    A63.7080
  • Document
    Productenbrochure PDF
  • Min. bestelaantal
    1 pc
  • Prijs
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Verpakking Details
    Kartonverpakking, voor de Uitvoervervoer
  • Levertijd
    5 ~ 20 dagen
  • Betalingscondities
    T/T, West Union, PayPal
  • Levering vermogen
    5000 PCs-Maand

1x~600000x Emissiescanner Elektronenmicroscoop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem

  • 1x~600000x Emission Scanning Electron Microscope Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem
  • 1x~600000x Emission Scanning Electron Microscope Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem
  • 1x~600000x Emission Scanning Electron Microscope Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem
  • 1x~600000x Emission Scanning Electron Microscope Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem
Prijs opvragen Contact nu
1x~600000x Emissiescanner Elektronenmicroscoop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 0
1x~600000x Emissiescanner Elektronenmicroscoop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 1
1x~600000x Emissiescanner Elektronenmicroscoop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 2
1x~600000x Emissiescanner Elektronenmicroscoop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 3
 
1x~600000x Emissiescanner Elektronenmicroscoop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 4
 
1x~600000x Emissiescanner Elektronenmicroscoop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 5
 
1x~600000x Emissiescanner Elektronenmicroscoop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 6
 
1x~600000x Emissiescanner Elektronenmicroscoop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 7
 
1x~600000x Emissiescanner Elektronenmicroscoop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 8
 
1x~600000x Emissiescanner Elektronenmicroscoop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 9
 
1x~600000x Emissiescanner Elektronenmicroscoop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 10
 
1x~600000x Emissiescanner Elektronenmicroscoop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 11
 
1x~600000x Emissiescanner Elektronenmicroscoop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 12
 
A63.7080, A63.7081 Softwarehoofdfunctie
Geïntegreerde inbedrijfstelling met hoge spanning Automatisch filament aan/uit Potentiële verschuivingsregulering
Helderheid aanpassing Elektrisch tot centraal verstelbaar Automatische helderheid
Contrastaanpassing Objectief aanpassing Autofocus
Vergrotingsaanpassing Objectieve demagnetisering Automatische eliminatie van astigmatisme
Geselecteerde gebiedscanmodus Elektrische rotatieverstelling Beheer van microscoopparameters
Puntscanmodus Aanpassing van de verplaatsing van de elektronenbundel Realtime weergave van de scanveldgrootte
Lijnscanmodus Kantelaanpassing van elektronenbundels Afstelling pistoollens
Oppervlakte scannen Aanpassing van de scansnelheid Meerkanaals ingang
Bewaking van hoogspanningsvermogen Swing centreren Liniaal meting


1x~600000x Emissiescanner Elektronenmicroscoop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 13
1x~600000x Emissiescanner Elektronenmicroscoop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 14
 
SEM A63.7069
A63.7069-L
A63.7069-LV		 A63.7080
A63.7080-L		 A63.7081
Oplossing 3nm@30KV(SE)
6nm@30KV(BSE)		 1,5 nm@30KV(SE)
3nm@30KV(BSE)		 1,0 nm@30KV (SE)
3,0 nm@1KV(SE)
2,5 nm@30KV (BSE)
Vergroting 1x~450000x,Negatieve ware vergroting 1x~600000x, negatieve ware vergroting 1x ~ 3000000x negatieve ware vergroting
Elektronen pistool Voorgecentreerde wolfraamfilamentcartridge Schottky veldemissiekanon Schottky veldemissiekanon
Spanning Versnelspanning 0,2~30kV, continu instelbaar, stap aanpassen 100V@0-10Kv, 1KV@10-30KV
Snelle weergave Eén toets Quick View-afbeeldingsfunctie N.v.t N.v.t
Lenssysteem Elektromagnetische taps toelopende lens met drie niveaus Elektromagnetische taps toelopende lens met meerdere niveaus
Opening 3 Molybdeen-objectiefopeningen, verstelbaar buiten het vacuümsysteem, geen noodzaak om het objectief te demonteren om het diafragma te veranderen
Vacuümsysteem 1 moleculaire turbopomp
1 mechanische pomp
Monsterkamervacuüm>2,6E-3Pa
Elektronenkanonkamervacuüm>2,6E-3Pa
Volledig automatische vacuümregeling
Vacuümvergrendelingsfunctie

Optioneel model: A63.7069-LV
1 moleculaire turbopomp
2Mechanische pompen
Monsterkamervacuüm>2,6E-3Pa
Elektronenkanonkamervacuüm>2,6E-3Pa
Volledig automatische vacuümregeling
Vacuümvergrendelingsfunctie
Laag vacuümBereik 10~270Pa Voor snelle omschakeling in 90 seconden Voor BSE(LV)		 1 Ionenpompset
1 moleculaire turbopomp
1 mechanische pomp
Monsterruimte Vacuüm>6E-4Pa
Elektronenkanonkamervacuüm>2E-7 Pa
Volledig automatische vacuümregeling
Vacuümvergrendelingsfunctie		 1 Sputter-ionenpomp
1 Getter-ionenverbindingspomp
1 moleculaire turbopomp
1 mechanische pomp
Monsterruimte Vacuüm>6E-4Pa
Elektronenkanonkamervacuüm>2E-7 Pa
Volledig automatische vacuümregeling
Vacuümvergrendelingsfunctie
Detector SE: Secundaire elektronendetector met hoog vacuüm (met detectorbescherming) SE: Secundaire elektronendetector met hoog vacuüm (met detectorbescherming) SE: Secundaire elektronendetector met hoog vacuüm (met detectorbescherming)
BSE: Halfgeleider 4-segmentatie
Terugverstrooiingsdetector		 Optioneel Optioneel
Optioneel model: A63.7069-LV
BSE(LV): Halfgeleider 4 segmentatie
Terugverstrooiingsdetector		 　 　
CCD:Infrarood CCD-camera CCD:Infrarood CCD-camera CCD:Infrarood CCD-camera
Poort uitbreiden 2 Verleng poorten op monsterruimte voor
EDS, BSD, WDS enz.		 4 Verleng poorten op monsterruimte voor
BSE, EDS, BSD, WDS enz.		 4 Verleng poorten op monsterruimte voor
BSE, EDS, BSD, WDS enz.
Monsterstadium 5 Assen Podium, 4Auto+1HandmatigControle
Reisbereik:
X=70mm, Y=50mm, Z=45mm,
R=360°, T=-5°~+90° (Handmatig)
Raak waarschuwings- en stopfunctie aan

Optioneel model:
A63.7069-L5 assen automatisch groot podium		 5 AssenAuto MiddenFase
Reisbereik:
X=80mm, Y=50mm, Z=30mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Raak waarschuwings- en stopfunctie aan

Optioneel model:
A63.7080-L5 AssenAuto GrootFase		 5 AssenAuto GrootFase
Reisbereik:
X=150mm, Y=150mm, Z=60mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Raak waarschuwings- en stopfunctie aan
Maximaal exemplaar Diameter 175 mm, hoogte 35 mm Diameter 175 mm, hoogte 20 mm Dia.340 mm, hoogte 50 mm
Beeldsysteem Echt stilstaand beeld Max. resolutie 4096x4096 pixels,
Beeldbestandsformaat: BMP (standaard), GIF, JPG, PNG, TIF		 Echt stilstaand beeld Max. resolutie 16384x16384 pixels,
Beeldbestandsformaat: TIF (standaard), BMP, GIF, JPG, PNG
Video: Automatische opname van digitale .AVI-video		 Echt stilstaand beeld Max. resolutie 16384x16384 pixels,
Beeldbestandsformaat: TIF (standaard), BMP, GIF, JPG, PNG
Video: Automatische opname van digitale .AVI-video
Computer en software PC-werkstation Win 10-systeem, met professionele beeldanalysesoftware voor volledige controle van de hele werking van de SEM-microscoop, computerspecificatie niet minder dan Inter I5 3,2 GHz, 4G-geheugen, 24-inch IPS LCD-monitor, 500G harde schijf, muis, toetsenbord
Fotoweergave Het beeldniveau is rijk en nauwgezet en toont real-time vergroting, liniaal, spanning en grijscurve
Dimensie
& Gewicht		 Microscooplichaam 800x800x1850mm
Werktafel 1340x850x740mm
Totaal gewicht 400 kg		 Microscooplichaam 800x800x1480mm
Werktafel 1340x850x740mm
Totaal gewicht 450 kg		 Microscooplichaam 1000x1000x1730mm
Werktafel 1330x850x740mm
Totaal gewicht 550 kg
Optionele accessoires
Optionele accessoires A50.7002EDS Energiedispersieve röntgenspectrometer
A50.7011Ionensputtercoater		 A50.7001BSE terugverstrooiingselektronendetector
A50.7002EDS Energiedispersieve röntgenspectrometer
A50.7011Ionensputtercoater
A50.7030Motoriseer het bedieningspaneel		 A50.7001BSE terugverstrooiingselektronendetector
A50.7002EDS Energiedispersieve röntgenspectrometer
A50.7011Ionensputtercoater
A50.7030Motoriseer het bedieningspaneel

1x~600000x Emissiescanner Elektronenmicroscoop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 15

1x~600000x Emissiescanner Elektronenmicroscoop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 16
A50.7001 BSE-detector Halfgeleider-terugverstrooiingsdetector met vier segmenten;
Verkrijgbaar in ingrediënten A+B, morfologie-informatie AB;
Beschikbare monsters observeren zonder goud te sputteren;
Beschikbaar in Observeer onzuiverheid en distributie rechtstreeks vanuit grijswaardenkaart.
A50.7002 EDS (röntgendetector) Siliciumnitride (Si3N4) venster om röntgentransmissie met lage energie te optimaliseren voor analyse van lichtelementen;
Uitstekende resolutie en hun geavanceerde, geluidsarme elektronica zorgen voor uitstekende doorvoerprestaties;
De kleine footprint biedt flexibiliteit om ideale geometrie en Aata-collectieomstandigheden te garanderen;
De detectoren bevatten een chip van 30 mm2.
A50.7003 EBSD (Elektronenbundel terugverstrooide diffractie) de gebruiker kan de kristaloriëntatie, kristalfase en microtextuur van materialen en gerelateerde materiaalprestaties analyseren, enz.
automatische optimalisatie van EBSD-camera-instellingen
voer tijdens de gegevensverzameling interactieve real-time analyses uit om maximale informatie te verkrijgen
alle gegevens zijn voorzien van een tijdlabel, dat op elk moment kan worden bekeken
hoge resolutie 1392 x 1040 x 12
Scan- en indexsnelheid: 198 punten / sec, met Ni als standaard, onder de voorwaarde van 2 ~ 5nA, kan het indexpercentage ≥99% worden gegarandeerd;
werkt goed onder de voorwaarde van dimlichtstroom en lage spanning van 5 kV bij 100 pA
oriëntatiemeetnauwkeurigheid: beter dan 0,1 graden
Met behulp van het triplex-indexsysteem: u hoeft niet te vertrouwen op de definitie van één band, eenvoudige indexering van slechte patroonkwaliteit
speciale database: speciale EBSD-database verkregen door elektronendiffractie: >400 fasestructuur
Indexvermogen: het kan automatisch alle kristalmaterialen van 7 kristalsystemen indexeren.
De geavanceerde opties omvatten het berekenen van de elastische stijfheid (Elastic Stiffness), Taylor (Taylor)-factor, Schmidt (Schmid)-factor, enzovoort.
A50.7010 Coatingmachine Glazen beschermschaal: ∮250 mm; 340 mm hoog;
Glazen verwerkingskamer:
∮88mm; 140 mm hoog, ∮88 mm; 57 mm hoog;
Afmetingen monsterpodium: ∮40 ​​mm (max);
Vacuümsysteem: molecuulpomp en mechanische pomp;
Vacuümdetectie: Pirani Gage;
Vacuüm: beter dan 2 x 10-3 Pa;
Vacuümbescherming: 20 Pa met microschaal-opblaasventiel;
Specimenbeweging: vlakrotatie, kantelprecessie.
A50.7011 Ionensputtercoater Glazen verwerkingskamer: ∮100 mm; 130 mm hoog;
Afmetingen monsterpodium: ∮40 ​​mm (plaats voor 6 monsterbekers);
Gouden doelgrootte: ∮58 mm * 0,12 mm (dikte);
Vacuümdetectie: Pirani Gage;
Vacuümbescherming: 20 Pa met microschaal-opblaasventiel;
Middelgroot gas: argon of lucht met speciale luchtinlaat voor argongas en gasregulering op microschaal.
A50.7012 Argonionen sputtercoater Het monster werd onder hoog vacuüm bedekt met koolstof en goud;
Draaibare monstertafel, uniforme coating, deeltjesgrootte ongeveer 3-5 nm;
Geen selectie van doelmateriaal, geen schade aan monsters;
De functies van ionenreiniging en ionenverdunning kunnen worden gerealiseerd.
A50.7013 Kritieke puntdroger Binnendiameter: 82 mm, binnenlengte: 82 mm;
Drukbereik: 0-2000 psi;
Temperatuurbereik: 0°-50° C (32°-122° F)
A50.7014 Elektronenbundellithografie Op basis van een scanning-elektronenmicroscoop werd een nieuw nano-belichtingssysteem ontwikkeld;
De wijziging heeft alle Sem-functies behouden voor het maken van lijnbreedteafbeeldingen op nanoschaal;
Het gemodificeerde Ebl-systeem wordt op grote schaal toegepast in micro-elektronische apparaten, opto-elektronische apparaten, Quantun-apparaten en onderzoek en ontwikkeling van micro-elektronicasystemen.

1x~600000x Emissiescanner Elektronenmicroscoop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 17
A63.7080, A63.7081 Standaarduitrusting met verbruiksartikelen
1 Veldemissiefilament Geïnstalleerd in microscoop 1 st
2 Voorbeeld beker Diameter 13 mm 5 stuks
3 Voorbeeld beker Diameter 32 mm 5 stuks
4 Dubbelzijdige geleidende tape van koolstof 6 mm 1 pakket
5 Vacuüm vet 　 10 stuks
6 Haarloze doek 　 1 buis
7 Polijstpasta 　 1 st
8 Voorbeelddoos 　 2 Zakken
9 Wattenstaafje 　 1 st
10 Olienevelfilter 　 1 st
A63.7080, A63.7081 Standaard gereedschaps- en onderdelenuitrusting
1 Binnenzeskantsleutel 1,5 mm ~ 10 mm 1 Instellen
2 Pincet Lengte 100-120 mm 1 st
3 Sleufschroevendraaier 2*50mm, 2*125mm 2 stuks
4 Kruis schroevendraaier 2*125mm 1 st
5 Ontluchtingspijp reinigen Dia.10/6,5 mm (buitendiameter/binnendiameter) 5m
6 Ontlucht drukreduceerventiel Uitgangsdruk 0-0,6 MPa 1 st
7 Interne bakvoeding 0-3A gelijkstroom 2 stuks
8 UPS-voeding 10kVA 2 stuks

1x~600000x Emissiescanner Elektronenmicroscoop Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 18
Markeringen:

Portable Digital Microscope

Hand - gehouden Digitale Microscoop

hand - gehouden microscoop

gerelateerde producten

Onze producten worden over de hele wereld verkocht. U kunt gerust zijn op het hele proces van onze producten.

Vraag een offerte aan