Bericht versturen
Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
Opto Edu A61.4510 Scanning Tunneling Electron Microscope Constant Height Current Mode

Opto het Aftasten Een tunnel gravende Elektronenmicroscoop Constant Height Current Mode van Edu A61.4510

  • Hoog licht

    opto een tunnel gravende elektronenmicroscoop van het eduaftasten

    ,

    de constante een tunnel gravende elektronenmicroscoop van het hoogteaftasten

    ,

    de huidige microscoop van wijze opto edu

  • Het werkwijze
    „Constant Height Mode Constant Current-Wijze“
  • Huidige Spectrumkromme
    „I-V Curve Current-Distance Curve“
  • X-Y Aftastenwaaier
    5×5um
  • X-Y Aftastenresolutie
    0.05Nm
  • Z Aftastenwaaier
    1um
  • Y Aftastenresolutie
    0.01nm
  • Aftastensnelheid
    0.1Hz~62Hz
  • Aftastenhoek
    0~360°
  • Steekproefgrootte
    „Φ≤68mm H≤20mm“
  • Het X-Y Stadium Bewegen zich
    15×15mm
  • Schokbrekend Ontwerp
    De lenteopschorting
  • Optische Syestem
    1~500x ononderbroken Gezoem
  • Output
    USB2.0/3.0
  • Software
    Winst XP/7/8/10
  • Plaats van herkomst
    China
  • Merknaam
    OPTO-EDU
  • Certificering
    CE, Rohs
  • Modelnummer
    A61.4510
  • Min. bestelaantal
    1pc
  • Prijs
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Verpakking Details
    Kartonverpakking, voor de Uitvoervervoer
  • Levertijd
    5~20 Dagen
  • Betalingscondities
    L/C, Western Union, T/T, MoneyGram
  • Levering vermogen
    5000 PCs-Maand

Opto het Aftasten Een tunnel gravende Elektronenmicroscoop Constant Height Current Mode van Edu A61.4510

Aftastende Een tunnel gravende Microscoop

  • Verkleind en afneembaar ontwerp, zeer gemakkelijk te dragen en het klaslokaalonderwijs
  • Het opsporingshoofd en het stadium van het steekproefaftasten zijn geïntegreerd, is de structuur zeer stabiel, en anti-interference is sterk
  • De intelligente naald het voeden methode van motor-gecontroleerde onder druk gezette piezoelectric ceramische automatische opsporing beschermt de sonde en de steekproef
  • Zijccd-observatiesysteem, observatie in real time van de toevoegingsstatus van de sondenaald en het plaatsen van het aftastengebied van de sondesteekproef
  • De schokbestendige methode van de de lenteopschorting, eenvoudig en praktisch, goed schokbestendig effect

Opto het Aftasten Een tunnel gravende Elektronenmicroscoop Constant Height Current Mode van Edu A61.4510 0

Opto het Aftasten Een tunnel gravende Elektronenmicroscoop Constant Height Current Mode van Edu A61.4510 1

Verkleind en afneembaar ontwerp, zeer gemakkelijk te dragen en het klaslokaalonderwijs

 

Het opsporingshoofd en het stadium van het steekproefaftasten zijn geïntegreerd, is de structuur zeer stabiel, en anti-interference is sterk

 

De steekproef van de enig-asaandrijving nadert automatisch de sonde verticaal, zodat het naalduiteinde aan het steekproefaftasten loodrecht is

 

De intelligente naald het voeden methode van motor-gecontroleerde onder druk gezette piezoelectric ceramische automatische opsporing beschermt de sonde en de steekproef

 

Zijccd-observatiesysteem, observatie in real time van de de toevoegingsstaat van de sondenaald en het plaatsen van het het aftastengebied van de sondesteekproef

 

De schokbestendige methode van de de lenteopschorting, eenvoudig en praktisch, goed schokbestendig effect

 

Geïntegreerde de gebruikersredacteur van de scanner niet-lineaire correctie, nanometerkarakterisering en metingsnauwkeurigheid dan beter 98%

Opto het Aftasten Een tunnel gravende Elektronenmicroscoop Constant Height Current Mode van Edu A61.4510 2

Opto het Aftasten Een tunnel gravende Elektronenmicroscoop Constant Height Current Mode van Edu A61.4510 3

Opto het Aftasten Een tunnel gravende Elektronenmicroscoop Constant Height Current Mode van Edu A61.4510 4

Opto het Aftasten Een tunnel gravende Elektronenmicroscoop Constant Height Current Mode van Edu A61.4510 5

Opto het Aftasten Een tunnel gravende Elektronenmicroscoop Constant Height Current Mode van Edu A61.4510 6

 

A61.4510
Het werkwijze Constant Height Mode
Constant Current Mode
Huidige Spectrumkromme I-V Curve
Huidig-afstandskromme
X-Y Aftastenwaaier 5×5um
X-Y Aftastenresolutie 0.05nm
Z Aftastenwaaier 1um
Y Aftastenresolutie 0.01nm
Aftastensnelheid 0.1Hz~62Hz
Aftastenhoek 0~360°
Steekproefgrootte Φ≤68mm
H≤20mm
Het X-Y Stadium Bewegen zich 15×15mm
Schokbrekend Ontwerp De lenteopschorting
Optische Syestem 1~500x ononderbroken Gezoem
Output USB2.0/3.0
Software Winst XP/7/8/10
Microscoop Optische Microscoop Elektronenmicroscoop De Microscoop van de aftastensonde
Max Resolution (um) 0,18 0,00011 0,00008
Opmerking Olieonderdompeling 1500x De koolstofatomen van de weergavediamant Atomen van de weergave high-order grafietkoolstof
Opto het Aftasten Een tunnel gravende Elektronenmicroscoop Constant Height Current Mode van Edu A61.4510 7 Opto het Aftasten Een tunnel gravende Elektronenmicroscoop Constant Height Current Mode van Edu A61.4510 8 Opto het Aftasten Een tunnel gravende Elektronenmicroscoop Constant Height Current Mode van Edu A61.4510 9
Sonde-steekproef Interactie Maatregelensignaal Informatie
Kracht Elektrostatische Kracht Vorm
Tunnelstroom Huidig Vorm, Geleidingsvermogen
Magnetische Kracht Fase Magnetische Structuur
Elektrostatische Kracht Fase lastendistributie
  Resolutie Arbeidsvoorwaarde Het werken Temperation Damge aan Steekproef Inspectiediepte
SPM Atom Level 0.1nm Normaal, Vloeibaar, Vacuüm Zaal of Lage Temperation Niets 1~2 Atom Level
TEM Punt 0.3~0.5nm
Rooster 0.1~0.2nm
Hoog Vacuüm Zaal Temperation Klein Gewoonlijk <100nm>
SEM 6-10nm Hoog Vacuüm Zaal Temperation Klein 10mm @10x
1um @10000x
FIM Atom Level 0.1nm Super Hoog Vacuüm 30~80K Damge Atom Thickness