Bericht versturen
Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
Opto Edu A62.4501 Scanning Microscope Curve Basic Level Atomic Force

Opto Edu A62.4501 Scanning Microscoop Curve Basisniveau Atomic Force

  • Hoog licht

    curve basisniveau scanning microscoop

    ,

    atomaire kracht scanning microscoop

    ,

    scanning opto edu microscoop

  • Het werkwijze
    „Contactwijze die van de de Wijzefase van de Wijze【de Facultatieve Wrijving】 van de de Wijze Magneti
  • Huidige Spectrumkromme
    „Rms-z Kromme F-Z Force Curve“
  • X-Y Aftastenwaaier
    20×20um
  • X-Y Aftastenresolutie
    0.2Nm
  • Z Aftastenwaaier
    2.5um
  • Y Aftastenresolutie
    0.05Nm
  • Aftastensnelheid
    0.6Hz~30Hz
  • Aftastenhoek
    0~360°
  • Steekproefgrootte
    „Φ≤90mm H≤20mm“
  • Schokbrekend Ontwerp
    „Van de het Metaalbeveiliging van de de lenteopschorting de Doos“
  • Optische Syestem
    „de Objectieve Resolutie 2.5um van 4x“
  • Output
    USB2.0/3.0
  • Software
    Winst XP/7/8/10
  • Plaats van herkomst
    China
  • Merknaam
    OPTO-EDU
  • Certificering
    CE, Rohs
  • Modelnummer
    A62.4501
  • Min. bestelaantal
    1pc
  • Prijs
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Verpakking Details
    Kartonverpakking, voor de Uitvoervervoer
  • Levertijd
    5~20 Dagen
  • Betalingscondities
    L/C, T/T, Western Union
  • Levering vermogen
    5000 PCs-Maand

Opto Edu A62.4501 Scanning Microscoop Curve Basisniveau Atomic Force

Basisniveau Atomic Force Microscoop

  • Basisniveau, aparte controller en ontwerp van de hoofdbehuizing, met contactmodus, tikmodus, 4x doelstelling
  • De scansonde en de monsterfase zijn geïntegreerd en het anti-interferentievermogen is sterk;
  • 2. Precisie laser- en sondepositioneringsapparaat, het is eenvoudig en handig om de sonde te vervangen en de plek aan te passen;
  • 4X optische positionering van de objectieflens, geen focus nodig, realtime observatie en positionering van het scangebied van de sondemonster
  • De schokbestendige methode met veerophanging is eenvoudig en praktisch en heeft een sterk anti-interferentievermogen
  • Opto Edu A62.4501 Scanning Microscoop Curve Basisniveau Atomic Force 0
  • Opto Edu A62.4501 Scanning Microscoop Curve Basisniveau Atomic Force 1
  • ◆ De laserdetectiekop en de monsterscanfase zijn geïntegreerd, de structuur is zeer stabiel en de anti-interferentie is sterk

    ◆ Precisie-probepositioneringsapparaat, aanpassing van de laserpuntuitlijning is heel eenvoudig

  • ◆ Het enkelassige aandrijfmonster nadert automatisch de sonde verticaal, zodat de naaldpunt loodrecht op de monsteraftasting staat

    ◆ De intelligente naaldaanvoermethode van motorgestuurde piëzo-elektrische keramische automatische detectie onder druk beschermt de sonde en het monster

  • ◆ Automatische optische positionering, geen noodzaak om te focussen, realtime observatie en positionering van het scangebied van de sondemonster

    ◆ Schokbestendige methode met veerophanging, eenvoudig en praktisch, goed schokbestendig effect

    ◆ Met metaal afgeschermde geluiddichte doos, ingebouwde zeer nauwkeurige temperatuur- en vochtigheidssensor, realtime bewaking van de werkomgeving

  • ◆ Geïntegreerde scanner niet-lineaire correctie gebruikerseditor, nanometerkarakterisering en meetnauwkeurigheid beter dan 98%

  • Opto Edu A62.4501 Scanning Microscoop Curve Basisniveau Atomic Force 2

  • Opto Edu A62.4501 Scanning Microscoop Curve Basisniveau Atomic Force 3

  • Opto Edu A62.4501 Scanning Microscoop Curve Basisniveau Atomic Force 4

  • Opto Edu A62.4501 Scanning Microscoop Curve Basisniveau Atomic Force 5

  • Specificatie A62.4500 A622.4501 A62.4503 A62.4505
    Werk modus Tikmodus

    [Optioneel]
    Contactmodus
    Wrijvingsmodus
    Fasemodus:
    Magnetische modus
    Elektrostatische modus:
    Contactmodus
    Tikmodus

    [Optioneel]
    Wrijvingsmodus
    Fasemodus:
    Magnetische modus
    Elektrostatische modus:
    Contactmodus
    Tikmodus

    [Optioneel]
    Wrijvingsmodus
    Fasemodus:
    Magnetische modus
    Elektrostatische modus:
    Contactmodus
    Tikmodus

    [Optioneel]
    Wrijvingsmodus
    Fasemodus:
    Magnetische modus
    Elektrostatische modus:
    Huidige spectrumcurve RMS-Z-curve

    [Optioneel]
    FZ-krachtcurve
    RMS-Z-curve
    FZ-krachtcurve
    RMS-Z-curve
    FZ-krachtcurve
    RMS-Z-curve
    FZ-krachtcurve
    XY-scanbereik 20×20um 20×20um 50×50um 50×50um
    XY-scanresolutie 0.2nm 0.2nm 0.2nm 0.2nm
    Z-scanbereik 2.5um 2.5um 5um 5um
    Y-scanresolutie 0,05nm 0,05nm 0,05nm 0,05nm
    Scansnelheid 0,6Hz~30Hz 0,6Hz~30Hz 0,6Hz~30Hz 0,6Hz~30Hz
    Scanhoek 0~360° 0~360° 0~360° 0~360°
    Steekproefgrootte Φ≤90mm
    H≤20mm
    Φ≤90mm
    H≤20mm
    Φ≤90mm
    H≤20mm
    Φ≤90mm
    H≤20mm
    XY-podium verplaatsen 15×15 mm 15×15 mm 25×25um 25×25um
    Schokabsorberend ontwerp Veerophanging Veerophanging
    Metalen afschermingsdoos
    Veerophanging
    Metalen afschermingsdoos
    -
    Optisch systeem 4x doelstelling
    Resolutie 2.5um
    4x doelstelling
    Resolutie 2.5um
    10x doelstelling
    Resolutie 1um
    Oculair 10x
    Infinity Plan LWD APO 5x10x20x50x
    5.0M digitale camera
    10" LCD-monitor, met meetfunctie
    LED Kohler-verlichting
    Coaxiale grove en fijne scherpstelling
    Uitgang: USB2.0/3.0 USB2.0/3.0 USB2.0/3.0 USB2.0/3.0
    Software Win XP/7/8/10 Win XP/7/8/10 Win XP/7/8/10 Win XP/7/8/10
  • Microscoop Optische microscoop Elektronen microscoop Scanning Probe Microscoop
    Maximale resolutie (um) 0,18 0.00011 0.00008
    Opmerking Olie-immersie 1500x Beeldvorming van diamant-koolstofatomen Beeldvorming van hoge-orde grafietkoolstofatomen
    Opto Edu A62.4501 Scanning Microscoop Curve Basisniveau Atomic Force 6   Opto Edu A62.4501 Scanning Microscoop Curve Basisniveau Atomic Force 7
  • Interactie sonde-monster Signaal meten: Informatie
    Kracht Elektrostatische kracht Vorm geven aan
    Tunnelstroom Huidig Vorm, geleidbaarheid
    Magnetische kracht Fase Magnetische structuur
    Elektrostatische kracht Fase ladingsverdeling
  •   Oplossing Werk omstandigheden Werktempo Schade aan monster Inspectiediepte:
    SPM Atoomniveau 0.1nm Normaal, Vloeibaar, Vacuüm Kamer of lage temperatuur Geen 1~2 atoomniveau
    TEM Punt 0.3~0.5nm
    Rooster 0.1~0.2nm
    Hoog vacuüm Kamer temperatuur Klein Gewoonlijk <100nm
    SEM 6-10nm Hoog vacuüm Kamer temperatuur Klein 10mm @10x
    1um @10000x
    FIM Atoomniveau 0.1nm Superhoog vacuüm 30~80K Schade Atoom Dikte:
  • Opto Edu A62.4501 Scanning Microscoop Curve Basisniveau Atomic Force 8
  •  
  •  
  •