Bericht versturen
Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
Opto Edu A62.4503 Atomic Force Microscope Research Level 360 Angle

Opto van de de Krachtmicroscoop van Edu A62.4503 Atoom het Onderzoekniveau 360 Hoek

  • Hoog licht

    microscoop van de 360 hoek de atoomkracht

    ,

    atoom de krachtmicroscoop van het onderzoekniveau

    ,

    opto edumicroscoop van het onderzoekniveau

  • Het werkwijze
    „Contactwijze die van de de Wijzefase van de Wijze【de Facultatieve Wrijving】 van de de Wijze Magneti
  • Huidige Spectrumkromme
    „Rms-z Kromme F-Z Force Curve“
  • X-Y Aftastenwaaier
    50×50um
  • X-Y Aftastenresolutie
    0.2Nm
  • Z Aftastenwaaier
    5um
  • Y Aftastenresolutie
    0.05Nm
  • Aftastensnelheid
    0.6Hz~30Hz
  • Aftastenhoek
    0~360°
  • Steekproefgrootte
    „Φ≤90mm H≤20mm“
  • Schokbrekend Ontwerp
    „Van de het Metaalbeveiliging van de de lenteopschorting de Doos“
  • Optische Syestem
    „de Objectieve Resolutie 1um van 10x“
  • Output
    USB2.0/3.0
  • Software
    Winst XP/7/8/10
  • Plaats van herkomst
    China
  • Merknaam
    OPTO-EDU
  • Certificering
    CE, Rohs
  • Modelnummer
    A62.4503
  • Min. bestelaantal
    1pc
  • Prijs
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Verpakking Details
    Kartonverpakking, voor de Uitvoervervoer
  • Levertijd
    5~20 Dagen
  • Betalingscondities
    L/C, T/T, Western Union
  • Levering vermogen
    5000 PCs-Maand

Opto van de de Krachtmicroscoop van Edu A62.4503 Atoom het Onderzoekniveau 360 Hoek

Atoom de Krachtmicroscoop van het onderzoekniveau

  • Onderzoekniveau, Gecombineerd controlemechanisme & hoofdlichaamsontwerp, met Contactwijze, die Wijze, 10x-Doelstelling onttrekken.
  • De precisielaser en het sonde plaatsende apparaat, het zijn eenvoudig en geschikt om de sonde te vervangen en de vlek aan te passen
  • High-precision en op grote schaal piezoelectric ceramische scanners kunnen volgens verschillende nauwkeurigheid en aftastenwaaiervereisten worden geselecteerd
  • Het optische plaatsen van de objectieve lens van 10X APO, geen behoefte zich te concentreren, observatie en plaatsen het in real time van het het aftastengebied van de sondesteekproef;
  • De schokbestendige methode van de de lenteopschorting is eenvoudig en praktisch, en heeft sterke anti-interference capaciteit.
  • Opto van de de Krachtmicroscoop van Edu A62.4503 Atoom het Onderzoekniveau 360 Hoek 0
  • Opto van de de Krachtmicroscoop van Edu A62.4503 Atoom het Onderzoekniveau 360 Hoek 1
  • ◆Het hoofd van de laseropsporing en het stadium van het steekproefaftasten zijn geïntegreerd, is de structuur zeer stabiel, en anti-interference is sterk

  • ◆Is het plaatsende apparaat van de precisiesonde, de groeperingsaanpassing van de laservlek zeer gemakkelijk

    ◆De steekproef van de enig-asaandrijving nadert automatisch de sonde verticaal, zodat het naalduiteinde aan het steekproefaftasten loodrecht is

    ◆De intelligente naald het voeden methode van motor-gecontroleerde onder druk gezette piezoelectric ceramische automatische opsporing beschermt de sonde en de steekproef

  •  

    High-precision en breed opgezette piezoelectric ceramische scanners kunnen vrij worden geselecteerd

     

    Hoog-vergrotings het objectieve lens automatische optische plaatsen, geen behoefte zich te concentreren, observatie en plaatsen het in real time van het het aftastengebied van de sondesteekproef

  • ◆De schokbestendige methode van de de lenteopschorting, eenvoudig en praktisch, goed schokbestendig effect

    ◆Het metaal beschermde geluiddichte doos, ingebouwde high-precision temperatuur en vochtigheidssensor, toezicht in real time op de werkomgeving

  • ◆Geïntegreerde de gebruikersredacteur van de scanner niet-lineaire correctie, nanometerkarakterisering en metingsnauwkeurigheid dan beter 98%

  •  
  • Opto van de de Krachtmicroscoop van Edu A62.4503 Atoom het Onderzoekniveau 360 Hoek 2

  • Opto van de de Krachtmicroscoop van Edu A62.4503 Atoom het Onderzoekniveau 360 Hoek 3

  • Opto van de de Krachtmicroscoop van Edu A62.4503 Atoom het Onderzoekniveau 360 Hoek 4

  • Opto van de de Krachtmicroscoop van Edu A62.4503 Atoom het Onderzoekniveau 360 Hoek 5

  • Opto van de de Krachtmicroscoop van Edu A62.4503 Atoom het Onderzoekniveau 360 Hoek 6

  • Opto van de de Krachtmicroscoop van Edu A62.4503 Atoom het Onderzoekniveau 360 Hoek 7

  • Opto van de de Krachtmicroscoop van Edu A62.4503 Atoom het Onderzoekniveau 360 Hoek 8

  • Opto van de de Krachtmicroscoop van Edu A62.4503 Atoom het Onderzoekniveau 360 Hoek 9

  • Specificatie A62.4500 A622.4501 A62.4503 A62.4505
    Het werkwijze Het onttrekken van Wijze

    [Facultatief]
    Contactwijze
    Wrijvingwijze
    Fasewijze
    Magnetische Wijze
    Elektrostatische Wijze
    Contactwijze
    Het onttrekken van Wijze

    [Facultatief]
    Wrijvingwijze
    Fasewijze
    Magnetische Wijze
    Elektrostatische Wijze
    Contactwijze
    Het onttrekken van Wijze

    [Facultatief]
    Wrijvingwijze
    Fasewijze
    Magnetische Wijze
    Elektrostatische Wijze
    Contactwijze
    Het onttrekken van Wijze

    [Facultatief]
    Wrijvingwijze
    Fasewijze
    Magnetische Wijze
    Elektrostatische Wijze
    Huidige Spectrumkromme Rms-z Kromme

    [Facultatief]
    F-Z Force Curve
    Rms-z Kromme
    F-Z Force Curve
    Rms-z Kromme
    F-Z Force Curve
    Rms-z Kromme
    F-Z Force Curve
    X-Y Aftastenwaaier 20×20um 20×20um 50×50um 50×50um
    X-Y Aftastenresolutie 0.2nm 0.2nm 0.2nm 0.2nm
    Z Aftastenwaaier 2.5um 2.5um 5um 5um
    Y Aftastenresolutie 0.05nm 0.05nm 0.05nm 0.05nm
    Aftastensnelheid 0.6Hz~30Hz 0.6Hz~30Hz 0.6Hz~30Hz 0.6Hz~30Hz
    Aftastenhoek 0~360° 0~360° 0~360° 0~360°
    Steekproefgrootte Φ≤90mm
    H≤20mm
    Φ≤90mm
    H≤20mm
    Φ≤90mm
    H≤20mm
    Φ≤90mm
    H≤20mm
    Het X-Y Stadium Bewegen zich 15×15mm 15×15mm 25×25um 25×25um
    Schokbrekend Ontwerp De lenteopschorting De lenteopschorting
    De Doos van de metaalbeveiliging
    De lenteopschorting
    De Doos van de metaalbeveiliging
    -
    Optische Syestem 4x doelstelling
    Resolutie 2.5um
    4x doelstelling
    Resolutie 2.5um
    10x doelstelling
    Resolutie 1um
    Ooglens 10x
    Oneindigheidsplan LWD APO 5x10x20x50x
    5.0M Digital Camera
    10“ LCD Monitor, met het Meten
    De LEIDENE Verlichting van Kohler
    Het coaxiale Ruwe & Fijne Concentreren zich
    Output USB2.0/3.0 USB2.0/3.0 USB2.0/3.0 USB2.0/3.0
    Software Winst XP/7/8/10 Winst XP/7/8/10 Winst XP/7/8/10 Winst XP/7/8/10
  • Microscoop Optische Microscoop Elektronenmicroscoop De Microscoop van de aftastensonde
    Max Resolution (um) 0,18 0,00011 0,00008
    Opmerking Olieonderdompeling 1500x De koolstofatomen van de weergavediamant Atomen van de weergave high-order grafietkoolstof
    Opto van de de Krachtmicroscoop van Edu A62.4503 Atoom het Onderzoekniveau 360 Hoek 10   Opto van de de Krachtmicroscoop van Edu A62.4503 Atoom het Onderzoekniveau 360 Hoek 11
  • Sonde-steekproef Interactie Maatregelensignaal Informatie
    Kracht Elektrostatische Kracht Vorm
    Tunnelstroom Huidig Vorm, Geleidingsvermogen
    Magnetische Kracht Fase Magnetische Structuur
    Elektrostatische Kracht Fase lastendistributie
  •   Resolutie Arbeidsvoorwaarde Het werken Temperation Damge aan Steekproef Inspectiediepte
    SPM Atom Level 0.1nm Normaal, Vloeibaar, Vacuüm Zaal of Lage Temperation Niets 1~2 Atom Level
    TEM Punt 0.3~0.5nm
    Rooster 0.1~0.2nm
    Hoog Vacuüm Zaal Temperation Klein Gewoonlijk <100nm>
    SEM 6-10nm Hoog Vacuüm Zaal Temperation Klein 10mm @10x
    1um @10000x
    FIM Atom Level 0.1nm Super Hoog Vacuüm 30~80K Damge Atom Thickness
  • Opto van de de Krachtmicroscoop van Edu A62.4503 Atoom het Onderzoekniveau 360 Hoek 12
  •  
  •  
  •