Atoom de Krachtmicroscoop van het onderzoekniveau

• Onderzoekniveau, Gecombineerd controlemechanisme & hoofdlichaamsontwerp, met Contactwijze, die Wijze, 10x-Doelstelling onttrekken.
• De precisielaser en het sonde plaatsende apparaat, het zijn eenvoudig en geschikt om de sonde te vervangen en de vlek aan te passen
• High-precision en op grote schaal piezoelectric ceramische scanners kunnen volgens verschillende nauwkeurigheid en aftastenwaaiervereisten worden geselecteerd
• Het optische plaatsen van de objectieve lens van 10X APO, geen behoefte zich te concentreren, observatie en plaatsen het in real time van het het aftastengebied van de sondesteekproef;
• De schokbestendige methode van de de lenteopschorting is eenvoudig en praktisch, en heeft sterke anti-interference capaciteit.

• 

• ◆Het hoofd van de laseropsporing en het stadium van het steekproefaftasten zijn geïntegreerd, is de structuur zeer stabiel, en anti-interference is sterk

• ◆Is het plaatsende apparaat van de precisiesonde, de groeperingsaanpassing van de laservlek zeer gemakkelijk

  ◆De steekproef van de enig-asaandrijving nadert automatisch de sonde verticaal, zodat het naalduiteinde aan het steekproefaftasten loodrecht is

  ◆De intelligente naald het voeden methode van motor-gecontroleerde onder druk gezette piezoelectric ceramische automatische opsporing beschermt de sonde en de steekproef

•  

  ◆High-precision en breed opgezette piezoelectric ceramische scanners kunnen vrij worden geselecteerd

   

  ◆Hoog-vergrotings het objectieve lens automatische optische plaatsen, geen behoefte zich te concentreren, observatie en plaatsen het in real time van het het aftastengebied van de sondesteekproef

• ◆De schokbestendige methode van de de lenteopschorting, eenvoudig en praktisch, goed schokbestendig effect

  ◆Het metaal beschermde geluiddichte doos, ingebouwde high-precision temperatuur en vochtigheidssensor, toezicht in real time op de werkomgeving

• ◆Geïntegreerde de gebruikersredacteur van de scanner niet-lineaire correctie, nanometerkarakterisering en metingsnauwkeurigheid dan beter 98%

•  

• 

• 

• 

• 

• 

• 

• 

• 

• Specificatie	A62.4500	A622.4501	A62.4503	A62.4505
  Het werkwijze	Het onttrekken van Wijze [Facultatief] Contactwijze Wrijvingwijze Fasewijze Magnetische Wijze Elektrostatische Wijze	Contactwijze Het onttrekken van Wijze [Facultatief] Wrijvingwijze Fasewijze Magnetische Wijze Elektrostatische Wijze	Contactwijze Het onttrekken van Wijze [Facultatief] Wrijvingwijze Fasewijze Magnetische Wijze Elektrostatische Wijze	Contactwijze Het onttrekken van Wijze [Facultatief] Wrijvingwijze Fasewijze Magnetische Wijze Elektrostatische Wijze
  Huidige Spectrumkromme	Rms-z Kromme [Facultatief] F-Z Force Curve	Rms-z Kromme F-Z Force Curve	Rms-z Kromme F-Z Force Curve	Rms-z Kromme F-Z Force Curve
  X-Y Aftastenwaaier	20×20um	20×20um	50×50um	50×50um
  X-Y Aftastenresolutie	0.2nm	0.2nm	0.2nm	0.2nm
  Z Aftastenwaaier	2.5um	2.5um	5um	5um
  Y Aftastenresolutie	0.05nm	0.05nm	0.05nm	0.05nm
  Aftastensnelheid	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz
  Aftastenhoek	0~360°	0~360°	0~360°	0~360°
  Steekproefgrootte	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm
  Het X-Y Stadium Bewegen zich	15×15mm	15×15mm	25×25um	25×25um
  Schokbrekend Ontwerp	De lenteopschorting	De lenteopschorting De Doos van de metaalbeveiliging	De lenteopschorting De Doos van de metaalbeveiliging	-
  Optische Syestem	4x doelstelling Resolutie 2.5um	4x doelstelling Resolutie 2.5um	10x doelstelling Resolutie 1um	Ooglens 10x Oneindigheidsplan LWD APO 5x10x20x50x 5.0M Digital Camera 10“ LCD Monitor, met het Meten De LEIDENE Verlichting van Kohler Het coaxiale Ruwe & Fijne Concentreren zich
  Output	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0
  Software	Winst XP/7/8/10	Winst XP/7/8/10	Winst XP/7/8/10	Winst XP/7/8/10

• Microscoop	Optische Microscoop	Elektronenmicroscoop	De Microscoop van de aftastensonde
  Max Resolution (um)	0,18	0,00011	0,00008
  Opmerking	Olieonderdompeling 1500x	De koolstofatomen van de weergavediamant	Atomen van de weergave high-order grafietkoolstof

• Sonde-steekproef Interactie	Maatregelensignaal	Informatie
  Kracht	Elektrostatische Kracht	Vorm
  Tunnelstroom	Huidig	Vorm, Geleidingsvermogen
  Magnetische Kracht	Fase	Magnetische Structuur
  Elektrostatische Kracht	Fase	lastendistributie

• 	Resolutie	Arbeidsvoorwaarde	Het werken Temperation	Damge aan Steekproef	Inspectiediepte
  SPM	Atom Level 0.1nm	Normaal, Vloeibaar, Vacuüm	Zaal of Lage Temperation	Niets	1~2 Atom Level
  TEM	Punt 0.3~0.5nm Rooster 0.1~0.2nm	Hoog Vacuüm	Zaal Temperation	Klein	Gewoonlijk <100nm>
  SEM	6-10nm	Hoog Vacuüm	Zaal Temperation	Klein	10mm @10x 1um @10000x
  FIM	Atom Level 0.1nm	Super Hoog Vacuüm	30~80K	Damge	Atom Thickness

• 
•  
•  

•