Optische + Atoomkrachtmicroscoop, alle-in-

◆Geïntegreerd ontwerp van optische metallographic microscoop en atoomkrachtmicroscoop, krachtige functies

◆Het heeft zowel optische microscoop als atoom de weergavefuncties van de krachtmicroscoop, allebei waarvan tegelijkertijd kunnen werken zonder elkaar te beïnvloeden

◆Tegelijkertijd, heeft het de functies van optische 2D meting en de atoom 3D meting van de krachtmicroscoop

• ◆Het hoofd van de laseropsporing en het stadium van het steekproefaftasten zijn geïntegreerd, is de structuur zeer stabiel, en anti-interference is sterk

  ◆Is het plaatsende apparaat van de precisiesonde, de groeperingsaanpassing van de laservlek zeer gemakkelijk

• ◆De steekproef van de enig-asaandrijving nadert automatisch de sonde verticaal, zodat het naalduiteinde aan het steekproefaftasten loodrecht is

  ◆De intelligente naald het voeden methode van motor-gecontroleerde onder druk gezette piezoelectric ceramische automatische opsporing beschermt de sonde en de steekproef

• ◆Ultrahoog vergrotings optisch plaatsend systeem om het nauwkeurige plaatsen van sonde en het gebied van het steekproefaftasten te bereiken

  ◆Geïntegreerde de gebruikersredacteur van de scanner niet-lineaire correctie, nanometer

• 

• 

• 

• 

• 

• 

• 

• Specificatie	A62.4500	A622.4501	A62.4503	A62.4505
  Het werkwijze	Het onttrekken van Wijze [Facultatief] Contactwijze Wrijvingwijze Fasewijze Magnetische Wijze Elektrostatische Wijze	Contactwijze Het onttrekken van Wijze [Facultatief] Wrijvingwijze Fasewijze Magnetische Wijze Elektrostatische Wijze	Contactwijze Het onttrekken van Wijze [Facultatief] Wrijvingwijze Fasewijze Magnetische Wijze Elektrostatische Wijze	Contactwijze Het onttrekken van Wijze [Facultatief] Wrijvingwijze Fasewijze Magnetische Wijze Elektrostatische Wijze
  Huidige Spectrumkromme	Rms-z Kromme [Facultatief] F-Z Force Curve	Rms-z Kromme F-Z Force Curve	Rms-z Kromme F-Z Force Curve	Rms-z Kromme F-Z Force Curve
  X-Y Aftastenwaaier	20×20um	20×20um	50×50um	50×50um
  X-Y Aftastenresolutie	0.2nm	0.2nm	0.2nm	0.2nm
  Z Aftastenwaaier	2.5um	2.5um	5um	5um
  Y Aftastenresolutie	0.05nm	0.05nm	0.05nm	0.05nm
  Aftastensnelheid	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz
  Aftastenhoek	0~360°	0~360°	0~360°	0~360°
  Steekproefgrootte	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm
  Het X-Y Stadium Bewegen zich	15×15mm	15×15mm	25×25um	25×25um
  Schokbrekend Ontwerp	De lenteopschorting	De lenteopschorting De Doos van de metaalbeveiliging	De lenteopschorting De Doos van de metaalbeveiliging	-
  Optische Syestem	4x doelstelling Resolutie 2.5um	4x doelstelling Resolutie 2.5um	10x doelstelling Resolutie 1um	Ooglens 10x Oneindigheidsplan LWD APO 5x10x20x50x 5.0M Digital Camera 10“ LCD Monitor, met het Meten De LEIDENE Verlichting van Kohler Het coaxiale Ruwe & Fijne Concentreren zich
  Output	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0
  Software	Winst XP/7/8/10	Winst XP/7/8/10	Winst XP/7/8/10	Winst XP/7/8/10

• Microscoop	Optische Microscoop	Elektronenmicroscoop	De Microscoop van de aftastensonde
  Max Resolution (um)	0,18	0,00011	0,00008
  Opmerking	Olieonderdompeling 1500x	De koolstofatomen van de weergavediamant	Atomen van de weergave high-order grafietkoolstof

• Sonde-steekproef Interactie	Maatregelensignaal	Informatie
  Kracht	Elektrostatische Kracht	Vorm
  Tunnelstroom	Huidig	Vorm, Geleidingsvermogen
  Magnetische Kracht	Fase	Magnetische Structuur
  Elektrostatische Kracht	Fase	lastendistributie

• 	Resolutie	Arbeidsvoorwaarde	Het werken Temperation	Damge aan Steekproef	Inspectiediepte
  SPM	Atom Level 0.1nm	Normaal, Vloeibaar, Vacuüm	Zaal of Lage Temperation	Niets	1~2 Atom Level
  TEM	Punt 0.3~0.5nm Rooster 0.1~0.2nm	Hoog Vacuüm	Zaal Temperation	Klein	Gewoonlijk <100nm>
  SEM	6-10nm	Hoog Vacuüm	Zaal Temperation	Klein	10mm @10x 1um @10000x
  FIM	Atom Level 0.1nm	Super Hoog Vacuüm	30~80K	Damge	Atom Thickness

• 
•  
•  

•