Bericht versturen
Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
Opto Edu A62.4511 Scanning Microscope Contact Tapping Mode Plane Atomic Force

Opto Contact die van de het Aftastenmicroscoop van Edu A62.4511 de Atoomkracht van het Wijzevliegtuig onttrekken

  • Hoog licht

    opto microscoop van het eduaftasten

    ,

    de marmeren microscoop van het basisaftasten

    ,

    opto microscoop van de edu atoomkracht

  • Het werkwijze
    „Contactwijze die van de de Wijzefase van de Wijze【de Facultatieve Wrijving】 van de de Wijze Magneti
  • Huidige Spectrumkromme
    „Rms-z Kromme F-Z Force Curve“
  • X-Y Aftastenwijze
    Steekproef Gedreven Aftasten, Gesloten het Aftastenstadium van de Lijn Piezoelectric Verschuiving
  • X-Y Aftastenwaaier
    Gesloten Lijn 100×100um
  • X-Y Aftastenresolutie
    Gesloten Lijn 0.5nm
  • Z Aftastenwaaier
    5um
  • Z Aftastenresolutie
    0.05Nm
  • Aftastensnelheid
    0.6Hz~30Hz
  • Aftastenhoek
    0~360°
  • Steekproefgewicht
    ≤15Kg
  • Stadiumgrootte
    „Dia.100mm 【Facultatieve】 Dia.200mm Dia.300mm“
  • Stadium het X-Y Bewegen zich
    „100x100mm, Resolutie 1um 【Facultatieve】 200x200mm 300x300mm“
  • Stadium Z het Bewegen zich
    „15mm, Resolutie 10nm 【Facultatieve】 20mm 25mm“
  • Schokbrekend Ontwerp
    „De lenteopschorting 【Facultatieve Actieve Schokbreker】“
  • Optisch Systeem
    „Objectieve 5x 5.0M Digital Camera 【Facultatieve】 Objectieve 10x Objectieve 20x“
  • Plaats van herkomst
    China
  • Merknaam
    OPTO-EDU
  • Certificering
    CE, Rohs
  • Modelnummer
    A62.4511
  • Min. bestelaantal
    1pc
  • Prijs
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Verpakking Details
    Kartonverpakking, voor de Uitvoervervoer
  • Levertijd
    5~20 Dagen
  • Betalingscondities
    L/C, T/T, Western Union
  • Levering vermogen
    5000 PCs-Maand

Opto Contact die van de het Aftastenmicroscoop van Edu A62.4511 de Atoomkracht van het Wijzevliegtuig onttrekken

Vliegtuig die Atoomkrachtmicroscoop aftasten

  • De brug hoofdontwerp aftasten, de marmeren basis, het vacuümadsorptiestadium, de steekproefgrootte en het gewicht die zijn fundamenteel onbeperkt
  • A62.4510 + Closed-loop three-axis onafhankelijke scanner van de drukverschuiving, die met hoge precisie in een brede waaier kan aftasten
  • Intelligente naald het voeden methode met automatische opsporing van motor-gecontroleerde piezoelectric keramiek om sondes en steekproeven te beschermen
  • Het automatische optische plaatsen, geen behoefte om nadruk aan te passen, observatie en het plaatsen het aftastengebied in real time van de sondesteekproef
  • Uitgerust met gesloten metaalschild, pneumatische schokbrekende lijst, sterke anti-interference capaciteit
  • Opto Contact die van de het Aftastenmicroscoop van Edu A62.4511 de Atoomkracht van het Wijzevliegtuig onttrekken 0
  • Opto Contact die van de het Aftastenmicroscoop van Edu A62.4511 de Atoomkracht van het Wijzevliegtuig onttrekken 1      

          ◆De eerste commerciële atoomkrachtmicroscoop in China om te realiseren combineerde mobiel aftasten van sonde en steekproef;

          ◆Eerste in China om een three-axis onafhankelijke closed-loop piezoelectric lijst van het verschuivingsaftasten te gebruiken om high-precision aftasten op grote schaal te bereiken;

          ◆Three-axis onafhankelijke aftasten, XYZ beïnvloedt elkaar niet, zeer geschikt voor driedimensionele materiaal en topografieopsporing;

          ◆Elektrische controle van steekproef bewegende lijst en opheffende lijst, die met positie met meerdere balies kunnen worden geprogrammeerd om snelle automatische opsporing te realiseren;

          ◆Brug die hoofdontwerp, marmeren basis, vacuümadsorptie en magnetisch adsorptiestadium aftasten;

          ◆De motor controleert automatisch de intelligente naald het voeden methode van de piezoelectric ceramische automatische opsporing om de sonde en de steekproef te beschermen;

          ◆Het hoge vergrotings hulp optische microscoop plaatsen, observatie in real time en het plaatsen van sonde en het gebied van het steekproefaftasten;

          ◆Het closed-loop piezoelectric aftastenstadium vereist geen niet-lineaire correctie, en de van de nanometerkarakterisering en meting nauwkeurigheid is beter dan 99,5%.

Opto Contact die van de het Aftastenmicroscoop van Edu A62.4511 de Atoomkracht van het Wijzevliegtuig onttrekken 2

  • Opto Contact die van de het Aftastenmicroscoop van Edu A62.4511 de Atoomkracht van het Wijzevliegtuig onttrekken 3
  •   A62.4510 A62.4511
    Het werkwijze Contactwijze
    Het onttrekken van Wijze

    [Facultatief]
    Wrijvingwijze
    Fasewijze
    Magnetische Wijze
    Elektrostatische Wijze
    Contactwijze
    Het onttrekken van Wijze

    [Facultatief]
    Wrijvingwijze
    Fasewijze
    Magnetische Wijze
    Elektrostatische Wijze
    Huidige Spectrumkromme Rms-z Kromme
    F-Z Force Curve
    Rms-z Kromme
    F-Z Force Curve
    X-Y Aftastenwijze Sonde Gedreven Aftasten,
    Piezo Buisscanner
    Steekproef Gedreven Aftasten, Gesloten het Aftastenstadium van de Lijn Piezoelectric Verschuiving
    X-Y Aftastenwaaier 70×70um Gesloten Lijn 100×100um
    X-Y Aftastenresolutie 0.2nm Gesloten Lijn 0.5nm
    Z Aftastenwijze   Sonde Gedreven Aftasten
    Z Aftastenwaaier 5um 5um
    Z Aftastenresolutie 0.05nm 0.05nm
    Aftastensnelheid 0.6Hz~30Hz 0.6Hz~30Hz
    Aftastenhoek 0~360° 0~360°
    Steekproefgewicht ≤15Kg ≤0.5Kg
    Stadiumgrootte Dia.100mm

    [Facultatief]
    Dia.200mm
    Dia.300mm
    Dia.100mm

    [Facultatief]
    Dia.200mm
    Dia.300mm
    Stadium het X-Y Bewegen zich 100x100mm, Resolutie 1um

    [Facultatief]
    200x200mm
    300x300mm
    100x100mm, Resolutie 1um

    [Facultatief]
    200x200mm
    300x300mm
    Stadium Z het Bewegen zich 15mm, Resolutie 10nm
    [Facultatief]
    20mm
    25mm
    15mm, Resolutie 10nm
    [Facultatief]
    20mm
    25mm
    Schokbrekend Ontwerp De lenteopschorting

    [Facultatief]
    Actieve Schokbreker
    De lenteopschorting

    [Facultatief]
    Actieve Schokbreker
    Optisch Systeem Objectieve 5x
    5.0M Digital Camera

    [Facultatief]
    Objectieve 10x
    Objectieve 20x
    Objectieve 5x
    5.0M Digital Camera

    [Facultatief]
    Objectieve 10x
    Objectieve 20x
    Output USB2.0/3.0 USB2.0/3.0
    Software Winst XP/7/8/10 Winst XP/7/8/10
    Hoofdlichaam Brugscannerkop, Marmeren Basis Brugscannerkop, Marmeren Basis
  • Microscoop Optische Microscoop Elektronenmicroscoop De Microscoop van de aftastensonde
    Max Resolution (um) 0,18 0,00011 0,00008
    Opmerking Olieonderdompeling 1500x De koolstofatomen van de weergavediamant Atomen van de weergave high-order grafietkoolstof
    Opto Contact die van de het Aftastenmicroscoop van Edu A62.4511 de Atoomkracht van het Wijzevliegtuig onttrekken 4   Opto Contact die van de het Aftastenmicroscoop van Edu A62.4511 de Atoomkracht van het Wijzevliegtuig onttrekken 5
  • Sonde-steekproef Interactie Maatregelensignaal Informatie
    Kracht Elektrostatische Kracht Vorm
    Tunnelstroom Huidig Vorm, Geleidingsvermogen
    Magnetische Kracht Fase Magnetische Structuur
    Elektrostatische Kracht Fase lastendistributie
  •   Resolutie Arbeidsvoorwaarde Het werken Temperation Damge aan Steekproef Inspectiediepte
    SPM Atom Level 0.1nm Normaal, Vloeibaar, Vacuüm Zaal of Lage Temperation Niets 1~2 Atom Level
    TEM Punt 0.3~0.5nm
    Rooster 0.1~0.2nm
    Hoog Vacuüm Zaal Temperation Klein Gewoonlijk <100nm>
    SEM 6-10nm Hoog Vacuüm Zaal Temperation Klein 10mm @10x
    1um @10000x
    FIM Atom Level 0.1nm Super Hoog Vacuüm 30~80K Damge Atom Thickness
  • Opto Contact die van de het Aftastenmicroscoop van Edu A62.4511 de Atoomkracht van het Wijzevliegtuig onttrekken 6
  •  
  •  
  •